IC 测试治具

IC测试治具主要用于固定被测IC，以保持其在测试过程中的稳定性。它通常由一个底座和一些机械结构组成，将IC固定在特定位置，以便测试设备可以准确地访问IC的所有引脚。此外，测试治具还可能包括用于将IC连接到测试设备的电气连接。

产品数据：

1) 应用Pitch ：0.3/0.4/0.5/0.65/0.8/1.27mm等
材料： FR4/PPS/PEI/Torlon/Peek/Peek+陶瓷
3) 封装： BGA/QFP/QFN/WCSP 等
4）结构：双扣、翻盖旋钮、翻盖
5）接触方式：探针

产品特点：

1）根据客户的PCBA ，定制芯片使用情况 ，且无需lay板 ，交期快 ，费用低。
2） 11年设计经验&方案 ，保证IC 定位精准的同时且拆卸、维护方便。
3) 探针可以单独更换 ，降低使用成本。
4) 适用范围：显卡、主机板、智能通信等数码设备。