QFN 系列
BGA 系列
SOP/TSOP 系列
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适用于 QFN、QFP、BGA、LGA、SOP、POP、WLCSP、PGA、TSSOP 和其他封装设备类型的 IC 测试座。
IC测试治具主要用于固定被测IC,以保持其在测试过程中的稳定性。它通常由一个底座和一些机械结构组成,将IC固定在特定位置,以便测试设备可以准确地访问IC的所有引脚。此外,测试治具还可能包括用于将IC连接到测试设备的电气连接。
伟盛丰提供一站式老化测试解决方案服务,可根据客户需求设计、生产老化测试座,以及配套老化测试座及老化PCBA、IC老化环境箱、老化监控系统等解决方案
芯片治具,也被称为芯片测试治具,是一种专门用于测试半导体芯片的设备。它的主要功能包括: 1、实现芯片的功能测试、参数测试、性能测试。 2.验证芯片性能及可靠性。 3.实现芯片的精准测试与优化。